DOI: 10.1002/phbl.19920481209. Reibungsmikroskopie

Reibungsmikroskopie

10.1002/phbl.19920481209

Crossref journal-article

Wiley

Physikalische Blätter (311)

Abstract

AbstractMit dem Reibungsmikroskop, einer Weiterentwicklung des Raster‐Kraftmikroskopes, ist erstmals eine Untersuchung von Reibungsphänomenen von einzelnen, wenige Atome umfassenden Kontakten zwischen zwei Oberflächen möglich. Laterale Kräfte auf Kontakte mit Nanometer‐Ausdehnung haben neben der bekannten dissipativen Komponente (Reibung) auch konservative Anteile. Auf heterogenen Oberflächen findet man im Reibungsbild einen materialabhängigen Kontrast, der in der Topographie nicht vorhanden ist und eine Unterscheidung von Materialien erlaubt. Viele der beobachteten Phänomene sind theoretisch nur ansatzweise verstanden.

Bibliography

Marti, O., & Colchero, J. (1992). Reibungsmikroskopie. Physikalische BlÃ¤tter, 48(12), 1007â1009. Portico.

Authors 2

O. Marti (first)
J. Colchero (additional)

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Dates

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Created	12 years, 6 months ago (Feb. 19, 2013, 11:03 p.m.)
Deposited	1 year, 10 months ago (Oct. 23, 2023, 4:39 p.m.)
Indexed	1 year, 10 months ago (Oct. 28, 2023, 1:42 a.m.)
Issued	32 years, 8 months ago (Dec. 1, 1992)
Published	32 years, 8 months ago (Dec. 1, 1992)
Published Online	12 years, 6 months ago (Feb. 19, 2013)
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Funders 0

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