Abstract
AbstractElektronenmikroskopische Präparate verändern sich während ihrer Untersuchung im Mikroskop durch Kontamination, Objektabbau und unmittelbare Strahlenschädigung. Diese Vorgänge wurden im Elektronenmikroskop bisher nur integral untersucht, etwa durch Bestimmung der zeitlichen Änderung der Massendicke des Präparates oder, bei kristallinen Objekten, der Reflexintensitäten im Beugungsdiagramm. Im Gegensatz zu diesen Methoden erlaubt das Bilddifferenzverfahren [1], die mit diesen Vorgängen verbundenen Bildänderungen dünner Objekte bis hinab zu Einzelheiten von der Größe des Auflösungsvermögens des Mikroskops zu studieren.Wir bestimmten derartige Änderungen bei dünnen amorphen Kohlefolien und Graphitlamellen: Es wurden Bilder dieser Objekte zu verschiedenen Zeiten und nach unterschiedlicher Strahlendosis unter gleichen elektronenoptischen Bedingungen bei höchster Auflösung photographisch registriert. Durch Abrasterung der photographischen Aufnahmen mit einem automatischen Mikrophotometer wurden die Schwärzungsverteilungen in digitaler Form erfaßt. Die weitere Bildauswertung bis hin zur Berechnung des Differenzbildes aus zwei verschiedenen Aufnahmen und der Rekonstruktion des fehlerfreien Bildes [6] erfolgte mit Hilfe einer IBM‐Rechenmaschine vom Typ 360/91.
References
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Referenced
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Dates
Type | When |
---|---|
Created | 1 year, 9 months ago (Nov. 13, 2023, 8:59 p.m.) |
Deposited | 1 year, 9 months ago (Nov. 13, 2023, 9 p.m.) |
Indexed | 11 months, 1 week ago (Sept. 8, 2024, 2:26 a.m.) |
Issued | 54 years, 9 months ago (Nov. 1, 1970) |
Published | 54 years, 9 months ago (Nov. 1, 1970) |
Published Online | 15 years, 3 months ago (May 4, 2010) |
Published Print | 54 years, 9 months ago (Nov. 1, 1970) |
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